技术编号：6002092
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于位于对电磁辐射透明的平坦物(例如，面板)后面的物体的精确电容式测量值获取的装置和方法，例如，根据权利要求I和5的前序部分所述的。背景技术通常基于电容式测量技术来构造传感器，所述传感器通过对光学照射不透明的平坦物(例如，通过板)检测非金属物体的存在或者移动。已知应用为例如电容式触控板(例如，从例如DE10324579A1已知的)、电容式接近传感器以及所谓“螺栓检测器”(寻迹器)。在提到的前两个应用中，传感器单元牢固地连接至待穿透板，从传感器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。