技术编号：6003092
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术当测试电子设备时，通常希望在测试系统的电子装置和一个或多个待测设备(DUT)之间发送大量信号。通常还希望测试系统提供广阔范围的功能用于测试DUT。半导体测试(特别地，半导体晶片测试或“晶片侦测”)是这样一种应用，该应用对于测试系统向多个DUT( 即，向半导体晶片上的多个DUT)既提供高信号计数又提供广阔范围的测试功能尤其有用。高信号计数和广阔范围的功能在半导体“最终测试”和其他应用中也是有用的。还希望测 试系统，特别是用于半导体测试的自动化测试仪器...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。