技术编号：6004585
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种粒子束能谱的光学测量方 法。背景技术能谱是表征辐射场特性的主要参数指标，是核物理研究、核技术应用时不可或缺的重要参数。入射粒子能量决定了核反应的过程和性质、截面、反应出射道等，因此核物理研究中需要知道粒子数目随能量的变化即粒子能谱。在离子治疗中为准确计算受照区域的剂量，也需要准确的知道入射离子的能量及其沉积分布的信息。例如在质子(重离子)治疗癌症案例中，质子的辐射剂量当量在10. OkeV I. OMeV能量区间变化非常陡，该区间内的质子剂量...
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