技术编号:6005953
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及系统芯片(SoC)测试。 背景技术在工程设计中引入“系统芯片”(System-on-Chip,SoC)可以简化设计,缩短产品上市时间,并且增加系统稳定性。然而随着SoC规模增大,SoC测试逐渐成为其制造过程中的瓶颈,SoC测试费用也不断增加。而SoC测试时间则是影响SoC测试成本和效率的重要因οSoC测试通常包括三部分测试访问机制(TAM)、测试封装(Wrapper)、测试调度 (Scheduling) 0测试访问机制描述IP (Intellec...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。