技术编号：6006425
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电子数据采集和处理的，特别涉及一种可进行内部电磁干扰失效诊断的方法。背景技术随着人们对电子产品质量要求的不断增加，电子设备的可靠性成为一项重要参数指标。失效分析作为保证电子设备可靠性工作的重要环节，目前研究热点在于电磁干扰而导致电子仪器失效的诊断方法。然而，现有的EMI失效诊断都集中诊断外部电磁干扰对电子元器件的影响，而忽略了一些高集成度的电子仪器内部的电磁干扰。同时，已有的失效诊断技术各有侧重点，其中傅里叶变换失效分析法只能做宏观诊断，小波变换...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。