技术编号：6006514
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属光学领域，涉及一种测量用光学系统，尤其涉及一种在激光近场分辨率测量用的4f光学系统。背景技术激光在传输过程中，需要经过多级、多个光学元件的取样、传递、缩束环节，由于这一过程中光学元件自身的缺陷，势必会给激光光束的质量带来影响，这种影响反应到激光光束本身就体现在光束的能量分布发生变化，光束的波前产生畸变，光束在探测器上的调制度和对比度等都会随之产生变化。为了能够对激光光束的各参数进行准确评价，就需要建立精确的光束参数测量装置，以便准确测量参数，反馈给...
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