技术编号:6006967
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试领域,特别涉及一种芯片测试方法及锂电池保护芯片的测试电路。背景技术随着集成电路产业的发展,对集成电路进行测试也显得越来越重要。就目前而言集成电路的测试一般采用专用测试仪器和通用测试仪器。由于专用测试仪器的局限性、非标准性及专用测仪器的开发周期过长等问题使得专用测试仪器的使用受到了较大的限制。 而通用测试仪器(ATE=Automatic test equipment)则以它的通用性、标准性、便捷性以及开放性迅速成为了集成电路测试行业的主流。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。