一种磁光克尔效应与磁晶各向异性场测量系统及测量方法技术资料下载

技术编号:6008356

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本发明属于物理测量,具体涉及一种表面磁光克尔效应与磁晶各向异性场测量装置及测量方法。背景技术测量物质的磁光克尔效应与磁晶各向异性场是薄膜磁学研究领域中的基本探测手段,测量装置均需一个可旋转的磁场在进行磁光克尔效应的测量(Μ0ΚΕ方法)时,需要旋转磁场来找到合适的磁化方向;在进行磁晶各向异性场的测量(R0TM0KE方法)时,需要将磁场进行360°转动,测量各磁场方向的克尔信号。目前,该类装置的磁场主要是利用步进马达带动磁铁来实现旋转,它可以对磁光克尔效应与磁...
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