技术编号：6008422
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。紧缩场天线测量系统本发明涉及紧缩场测试领域，特别是涉及一种包含超材料的紧缩场天线测量系统。背景技术当前测量目标(如天线等)散射特性的基本方法有远场法、紧缩场法和近场法。对于远场法，设D为待测目标的最大截面尺寸，r为发射天线与待测目标的距离，则当r^2D~2/A时(X为波长)，可近似认为投射到待测目标上的电磁波是平面电磁波。同样，接收天线与待测目标的距离也应满足这一要求，以使接收天线接收散射远场。转动待测目标，测出相应的散射远场，即可确定目标的远场散射方向图...
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