技术编号:6008593
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于非破坏性测量物体上的薄层的厚度的测量探头。 背景技术在DElO 2005 054 593 Al中,已知一种用于非破坏性测量薄层厚度的测量探头, 其包括在壳体内的至少一个传感器元件。接触球形帽被设置到该传感器元件,使得通过该接触球形帽可以将所述测量探头放置到将被测量的涂层的表面上。接着,可以用该类型的测量探头执行对膜厚的非破坏性测量。通常,该类型的测量探头被手动放在测量表面上,用于执行测量。也可以设想使用测量支架。在所述过程中,必须给予到测量表...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。