技术编号:6010637
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及可以对分散在试样池中的颗粒(或颗粒团)的纵横比和凝聚度等颗粒形状或粒径分布等物性进行测量的颗粒物性测量装置。此外,本发明还涉及可以根据散射光信息对以粒径为首的纵横比和凝聚度等形状物性值、zeta电位等颗粒物性进行测量的颗粒物性测量装置。背景技术近来,产业界对具有多种形状的微小颗粒的需求增加,详细测量微小颗粒的粒径和形状等物性的市场需求日益高涨。例如在专利文献1中提出了一种通过利用偏振光的散射光测量来对微小颗粒的特定物性进行测量的方案。该专利文献1...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。