技术编号：6015939
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属光无源器件制作领域，涉及一种保偏光纤光栅的制作，尤其是指一种在保偏光纤中刻写光栅时的光栅参数测量方法及其控制装置。背景技术保偏光纤在刻写光栅时要求其所测的光栅参数是在光纤的某一个偏振轴(慢轴， 或45度轴(一般将45度轴称之为混合轴，即光能量在快轴和慢轴各传播一半)上，为了满足此种要求，目前现行的刻栅方法是在光源与光纤之间连接一硬件控制器(如偏振控制器)，而在刻写光纤光栅时必须通过调节硬件控制器用于监测光纤光栅参数的光源的偏振轴与保偏光纤的上述偏振...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。