技术编号:6016116
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种失效分析领域,特别涉及一种光耦的失效分析方法。背景技术光电耦合器,又称为光耦,其结构一般分为三部分输入、输出和传输隔离部分。输入部分包括输入端芯片和发光二极管,其功能是将输入端信号变为一定波长的信号;输出端光电探测器一般为光敏三极管,复杂的器件有达林顿管或者场效应管。光电探测器接收输入端传过来的光信号,并转换为光电流,再经过进一步放大后输出。光耦信号输出异常是一种常见的失效现象,但目前尚无对其进行有效分析的方法。因此,如何对失效光耦进行有效分...
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