技术编号：6017032
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种互联线测试方法,尤其涉及一种FPGA(Field-programmable GateArray，可编程门阵列)互联线测试方法。背景技术BIST (Built-In Self Test，内建自我测试)是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。BIST是一种DFT (Design for Test ability)技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半 导体工业被广泛应用。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。