技术编号:6017281
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有探头和移动结构的测量设备,该探头与被测物体接触,该移动结构能够在预定的轴方向移动该探头。背景技术传统地,已知诸如三维测量机之类的测量设备,其通过沿着轴方向(XYZ轴方向) 移动探头、并且使在探头上提供的测量头达到与被测物体接触来测量被测物体的形状等 (参见例如日本专利特许公开No. 2001-21303)。这种类型的测量设备通常配备有刻度 (scale)电路和探头电路,该刻度电路具有刻度计数器以检测探头沿着轴方向已经被移动至的位置,该探头...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。