技术编号：6017667
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明特别涉及一种，用于测量响应时间达到GHz 以上的高速电子器件的响应时间和带宽，属于微电子测量。背景技术目前测试电子器件响应时间的普遍方法是测试电子器件的带宽，即通过给电子器件输入等幅度的一系列频率的正弦信号，再测量电子器件输出正弦信号的幅度，当输出信号的幅度随着输入频率的提高而降低到低频的0.7倍时，这个频率为电子器件的带宽。然而前述响应时间的测量方法均需采用比器件响应快得多的设备来实现，当电子器件的响应时间达到GHz以上后，就很难寻找到适合测量其带...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。