技术编号：6018367
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试设备及测试技术，特别涉及用于测试电子器件如集成电路的设备和技术。背景技术 集成电路(“ICs”)可以以各种方式测试。一种测试技术是电激励IC，然后一般通过将实际响应与参考响应比较来监视其电响应。通常用连接到外部电引线的自动测试设备进行激励/响应监视技术，电引线通常称为管脚，通过该管脚IC与外界相互作用。测试设备通过提供电信号到IC管脚激励IC然后监视从其管脚上的IC提供的所得电信号。另一测试技术涉及探针探测IC，特别当IC失败和希望决定失败原...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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