一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统的制作方法技术资料下载

技术编号:6018521

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本发明涉及一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统,尤其涉及对大功率半导体激光器的偏振测试。背景技术高功率半导体激光器由于其小体积、高效率、长寿命、大功率等诸多优点,被广泛应用于医疗、工业加工等许多领域。封装质量是半导体激光器质量的重要影响因素。芯片封装工艺作为激光器制作的重要工艺,是高功率半导体激光器应用的重要限制因素,其质量严重影响半导体激光器的输出特性,如器件的功率、波长、和偏振特性,同时影响半导体激光器的可靠性和寿命。但是,在半导体激光器阵列的封装...
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