技术编号:6019620
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于对容纳了气体试样的瓶(vial)内的减压进行控制的系统和方法。更具体地,本发明涉及用于在预定速率下对容纳气体试样的瓶进行减压的系统和方法。背景技术在通常的顶空进样分析中,液体或固体试样容纳在连接到顶空进样装置的瓶中。 顶空进样(head space sampling)装置用于在瓶内对试样上方的顶部空间进行采样。通常, 加热试样以制造充满顶部空间的蒸气。在顶空进样之前,以受控的方式用提供到瓶的气体对瓶进行加压。例如,通常可以通过气体对瓶进行加压...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。