技术编号:6020373
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种能完全在CMOS集成电路内部实现的用于确保非/接触CPU卡芯片安全的光电检测电路。背景技术非/接触CPU智能卡作为一个产品系列,由于可以设置不同的功能、安全性能,容量以及相应的COS,其产品应用领域越来越广,不同应用领域的需求规模也越来越大。智能卡控制器通常采用硅片制成。硅片的电性能将随着不同的电压、温度、光、电离辐射以及周围电磁场的变化而改变。攻击者将通过改变电源、电磁感应、用可见光或辐射性材料来照射智能卡的表面、或者改变温度等这些环境参数...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。