技术编号:6020696
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种样品检验系统以及一种使用所述样品检验系统检验样品的方法, 且更明确地说,涉及一种用于精确地检验样品的样品检验系统以及一种使用所述样品检验系统检验样品的方法。背景技术对于有效率的发光二极管(LED)来说,高光提取效率(发光效率)以及高内部量子效率为必要的。因此,一般来说,在衬底上形成多个2到3微米的凸-凹结构以通过所述凸-凹结构所致的光的折射以及不规则反射来改善光提取效率。可使用各种凸-凹结构 (例如,半球形或角锥形凸-凹结构)。LED的发光效...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。