技术编号:6021172
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及扫描探针显微镜领域以及一种扫描这种显微镜的方法。背景技术 伴随着扫描隧道显微镜的发展,扫描探针显微术领域开始于1981年。从那时起,发展了大范围的探针显微镜,尽管它们都是基于相同的基本操作原理为了获得样本空间的“相互作用图谱”,在样本表面上机械地扫描纳米探针。每种不同类型的扫描探针显微镜(SPM)特征在于局部探针的特性及其与样本表面的相互作用。一些探针技术,如扫描近场光学显微术(SNOM)和光子扫描隧道显微术(PSTM),检测由于探针与被辐射样本...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。