技术编号：6021768
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置， 属于激光测量。背景技术物质的折射率反映了物质内部的很多信息，同时与其它的一些参量(如密度、压强等)密切相关，因此对物质折射率的测量，在许多研究领域都有广泛的应用。通常测量透明介质折射率的方法是使用技术成熟的椭偏仪(孙顺明，张良莹，姚熹.椭偏技术的原理及其在功能薄膜表征中的应用[J].压电与声光，1998，20(3) 209-213)和运用全反射原理的阿贝折射仪(郝爱花，高应俊，阮驰，等...
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