技术编号:6021980
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属电子学、天线微波測量、航空航天的,特别涉及一种基于实际抛 物面坐标的大天线的辐射测试方法。背景技术大天线加工完成后的测试长期以来一直是个难题。光学测量对于天线来说可以得 到足够精确的形面误差,但其实际方向图测量一直无法完成。由于条件限制,远场测试和紧缩场测试静区达不到数米甚至上百米大型天线的测 试条件;近场扫描架目前也只有几十米的行程,且测试时间极长,以往对大型天线测试的解 决办法往往是不进行辐射特性测试,而仅仅依赖于设计时的理想仿真值,物理光学是...
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