技术编号：6022387
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路，包含多个输入；多个输出；以及在集成电路的测试模式中被耦合在多个输入和多个输出之间的测试装置，此测试装置包含多个逻辑门，多个逻辑门中的每个逻辑门具有耦合到多个输入中的一个输入的第一输入。由于各种原因，在例如集成电路(IC)的半导体器件中包括识别信息是有利的，例如由于这种信息的存在可以为器件用户提供有关电子器件版本的直接信息。当器件被集成在较大的系统，例如印刷电路板或多芯片模块中时，特别是若较大系统的各种部件的来源不同时，这是特别有用的。例...
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