技术编号：6023491
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明专利申请是国际申请号为PCT/US03/00(^9，国际申请日为2003年01月16 日，进入中国国家阶段的申请号为03802114. 5，名称为“用于在基于扫描的集成电路中传输扫描图案的方法和装置”的发明专利申请的分案申请。本发明通常涉及利用用于测试的设计(DFT)技术的逻辑设计和测试领域。具体的，本发明涉及利用扫描或建立自测试(BIST)技术用于集成电路的逻辑测试和诊断领域。背景技术随着集成电路的复杂性的增加，在获得非常高的错误覆盖的同时最小化测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。