技术编号:6024185
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电路测试和故障诊断领域,涉及边界扫描测试,尤其涉及。背景技术随着微电子技术进入超大规模集成电路时代,电路的高度复杂性及多层印制板、 表面贴装(SMT)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块(MCM)技术在电路系统中的运用,使得电路节点的物理可访问性正逐步削减以至于消失,电路和系统的可测试性急剧下降,测试费用在电路和系统总费用中所占的比例在不断上升。针对电路的器件布局日益复杂、元器件复杂的封装、密集的管脚;线路板小型化、线越来越细等这些问题就会给电路...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。