技术编号:6024482
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种光学球面曲率半径的高精度测量方法,属于光学测试领域,适用于抛光后光学球面曲率半径的在位检测,尤其适用于大口径、大曲率半径的检测。背景技术光学球面曲率半径是决定光学系统成像质量的主要参数之一,曲率半径的准确测量对光学系统设计及光学球面加工质量审核有着重要的指导意义。用环式球径仪测量球面曲率半径是通过测量出某部分球面对应的矢高及弦半径, 然后计算该球面的曲率半径,其测量精度取决于被测球面的曲率半径及仪器的性能。这种方法比较简便,但是测量误差较大。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。