技术编号：6024610
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种基于低相干干涉条纹的任意一个波峰或波谷的低相干干涉解调方法，适用于压力，温度，应变和位移传感等领域。背景技术低相干干涉是一种能够高精度测量绝对位移的有效方法，应用于表面三维轮廓检测、透明材料的厚度测量和光学相干层析技术等领域中。通常的做法是通过定位低相干干涉条纹的零光程位置获取测量信息，因此零光程位置定位的准确度和重复性会直接影响解调装置的精度和稳定度。在低相干干涉发展的起步阶段，利用干涉条纹的对比度或调制度来确定零光程差位置是应用最为广泛的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。