技术编号:6025210
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电磁测试领域,尤其涉及一种电波暗室。背景技术一般的电磁兼容(Electromagnetic Compatibility, EMC)测试需要使用电波暗室作为测试场地。通常地,电波暗室分为全电波暗室(fully anechoic chamber)及半电波暗室(sem1-anechoic chamber)。全电波暗室的内表面完全铺满吸波材料,半电波暗室则有一部分内表面覆盖吸波材料。一般信息技术类的设备(如计算机)在进行电磁兼容测试时,需要在低频(通常为...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。