技术编号：6026826
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一般来说，本公开涉及分层照相检验系统，并且更具体地说，涉及具有固定多焦点 X射线源的分层照相检验系统。背景技术许多工业应用依靠放射检验技术来确定工业配件(例如，管道、管道阵列、风扇叶片、风力叶片凸缘(spar cap)等)的质量。此类检验技术还可用于确定物体的一个或多个特征，例如确定管道的壁厚度。由于这些工业应用为了质量控制目的经常需要检验整个物体，因此在此类应用中通常采用的X射线源与机械门架相关联。每次机械门架将X射线源移至新位置，拍摄另一个图像，并且一...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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