技术编号:6027719
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种LED结温测试方法及装置,尤其涉及一种非接触式LED结温测试方法及装置。背景技术LED由于节能环保、高亮度、寿命长、体积小、成本低等优点,已广泛应用于各类照明领域,但目前LED普遍存在当驱动电流增大时,发热量随之不断增大,导致LED的P-N结结温过高,致使内量子效率降低,最终使发光效率降低,并影响LED的使用寿命。为研究和解决LED结温过高造成的不良影响,快速准确地测量LED结温就成为研究者们所重点关注的问题。而目前结温测试方法主要有正向电压...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。