技术编号:6028785
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及获得与透射过样本或被样本反射的太赫兹波有关的信息的i殳备和方法。 背景技术太赫兹波是具有从0.03 THz到30THz的任意频带的电磁波。 在太赫兹波段,发生依赖于包含生物分子的各种物质的结构和状态的 特性吸收。利用这样的特征,开发了以无损方式分析和识别物质的检 查技术。此外,期望应用于作为X射线的替代的安全成像技术或高速通信技术。此外,太赫兹波的特性包括适中的穿透样本的能力。例如,公开了利用此性质来测量多层膜的膜厚度的技术(日本专利特开No. ...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。