技术编号：6029363
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光电器件测试，尤其涉及一种在高低温工作条件 下对光电器件进行测试的装置和方法。背景技术光电器件应用有非常广泛的领域，其应用的环境温度范围也很大，因 而对光电器件需要在一个很大的工作范围内来测定其各项光电参数。常温 下的电学参数的测试相对而言比较简单，但在高低温箱内进行测试时，对 于微弱的光或电信号测试将遇到无法克服的困难。例如窄脉宽脉冲激光器的脉宽只有几个纳秒，所以，要求脉冲信号 与激光器的连线不能超过10厘米，而且其辐射的光信号也难以在箱内或箱...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。