技术编号:6029406
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线辐射成像领域,具体涉及用X射线对物体进行相位衬度的层析 成像。背景技术常用的X射线成像一般利用物质材料对X射线的衰减特性来非破坏性地检查物体 的内部结构。如果物体内部的各部分结构组成的密度差异明显,则传统的X射线成像技术 的效果尤为显著。但是,对于轻元素(例如氢、炭、氮和氧)构成的物质,它们对X射线来说 是弱吸收物质,所以用传统的X射线成像技术几乎看不到它们内部的具体结构。即使是用 其它辅助的手段,例如给生物组织打上造影剂也很难得到清晰的图...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。