技术编号：6029670
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于通过摄影方法进行植被冠层观测的领域，特别是涉及多光谱成像并反演植被冠层叶面积指数(LAI)的技术。 背景技术LAI测量方法分为直接测量方法和间接测量方法，直接测量方法通过 实测部分或者全部叶面积推算叶面积指数， 一般需要进行破坏性采样， 因此相当费时费力，仅适合小范围LAI测量。间接测量方法则通过测量 其他的参数来间接推导叶面积指数，经济、高效，对于需要重复测量或 测量区域较大时，间接测量方法优势尤其明显。间接测量方法均基于间 隙率方程并假设冠层...
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