技术编号:6029902
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体激光器,主要涉及一种可对脉冲半导体激光 器性能参数进行检测的测试设备,尤其涉及这种测试设备用于驱动被检大功 率半导体激光器的一种电源驱动装置。背景技术脉冲半导体激光器和普通半导体激光器相比,具有体积小,效率高,寿 命长等优点。目前在激光通信、激光雷达、激光制导、激光测距等各个领域得到广泛应用。近年来国产半导体激光器技术的日趋成熟,峰值功率在ioow以上的大功率半导体激光器己经在市场出现,广受工程应用者的亲睐。在半导体激光器使用前,需要对其激...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。