技术编号：6030364
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种，属于材料微观结构表 征和晶体结构解析的。背景技术现有测定未知晶体布拉菲点阵的方法主要有x射线衍射法和电子衍射法，前者使用X 射线衍射仪对样品作扫描，典型的x射线衍射谱包含有晶面间距和衍射强度的信息，但是丢失了晶面间夹角等三维的晶体学信息，该方法适用于分析块状和粉末试样，晶面间距的测量 精度相对较高，但衍射强度受材料织构等因素的影响，对于未知结构的样品，需要事先知道样品的化学成分，其主要缺点是x射线衍射谱反映了试样内部所有相的结构信息，如果试...
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