技术编号:6030388
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种颗粒粒度测试设备配件,具体地说是一种颗粒粒度测试 样品池。(二) 背景技术目前激光粒度仪对粉体材料进行测试时,通常使用的样品池截面为狭窄的条带形,长宽比在3以上,样品在样品池内呈薄片状,光束从大的工作面垂直 入射,只适用于前向散射的测量,因此测量范围在0.3微米以上。(三) 发明内容本发明的技术任务是针对现有技术的不足,提供一种测试散射角大,精 度高的颗粒粒度测试样品池。可有效解决全方位散射光的探测问题,使测试 最大散射角超过135度,且无死...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。