技术编号:6035424
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光学,涉及一种光谱分析装置,特别是一种 光纤式光学外差法倏逝波腔衰荡光谱分析装置,主要用于流体、薄膜、界 面、纳米物质等形态物质的痕量浓度测试。 技术背景在环境分析、生命科学、医学医疗、国防安全、先进制造工业等许多 领域存在大量的物质痕量测量需求,并且对检测灵敏度的要求越来越高。 腔衰荡光谱分析由于具有检测灵敏度高、绝对测量、选择性好等优点,成 为痕量物质测量技术发展趋势之一。腔衰荡光谱分析技术多用来分析痕量 气体浓度和组分,近些年来,研究者...
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