技术编号：6038441
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种尺寸测量柱，特别是一种单独的垂直轴向柱，也涉及一种用于在这种柱体中通过输入一个命令来转换测量模式的方法。通常的测量柱具有一个高度在50厘米到2米之间的支撑架2并且能使探针44的垂直位置被精确测量到微米级。待测部件9被靠近测量柱1放置，探针则垂直移动以便能顶靠在该部件上，部件的垂直坐标将被测量。测量柱1能被安置在一个气垫基座20上从而有助于其水平移动。这样的测量柱在文件US4924598中被描述过。该测量柱还可以被申请人以例如MICRO-HIT...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。