技术编号：6038722
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种检验电子芯片元件的检验端子、检验方法及其检验装置，特别涉及一种可接触到电子芯片元件外部电极的检验电子芯片元件的检验端子、检验方法及其检验电子芯片元件的检验装置。沿着转盘2的运载路径，检验装置1包括插入单元6，用于将电子芯片元件5插入到存储部分3中；检验单元7，用于测量元件5的特性；分类单元8，根据元件5的检测出的特性对元件5分类。转盘2从插入单元6向检验单元7运载存储在存储部分3中的电子芯片元件5。如附图说明图10A和10B所示，在检验单元7...
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