技术编号:6042947
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种试样尺寸测量系统,包括带滑轨的机座、位于机座上的光栅外罩、滑动设置于机座上的夹持试样的前部夹爪,所述光栅外罩内设有检测试样的纵向光栅尺、横向光栅尺以及夹持试样的后部夹爪,所述光栅外罩上设有光栅开口,所述光栅开口与后部夹爪的前端均设有导向斜面,所述后部夹爪的每个夹爪均包括两段分开的第一夹面与第二夹面,两段夹面之间设置有供横向光栅尺的测头通过的圆孔。通过本发明所述测量装置,其能适应不同尺寸、具有一定弯曲或者挠度的试样,使测量结果更精确,测量精度...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。