技术编号:6043045
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种用于半导体光源的远场强度的测试装置,结构精巧,且能够避免双臂机械上干涉而导致的系统可靠性低的问题。该装置主要包括相对固定的第一旋转轴和载台、相对固定的第二旋转轴和转折臂;待测半导体光源固定于载台上,待测半导体光源的出光光轴与第一旋转轴的轴心线垂直,驱动第一旋转轴能够带动载台使待测半导体光源在竖直平面内摆动180度范围;光探头固定于转折臂上,安装高度与待测半导体光源水平状态时的光路位置相当;第二旋转轴的轴心线位于待测半导体光源出光的摆动平面内;...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。