技术编号:6045675
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置,涉及一种激光。该实用新型包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机,其中,检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜,吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部,反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜,反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜,反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙,平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于反...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。