技术编号：6051208
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型提供一种利用集成开关矩阵测量I-V电路的测试系统，包括驱动器芯片、被测器件和测量装置；驱动器芯片的多个引脚与被测器件的多个引脚以点对点方式连接；测量装置用于产生并将数据载入被测器件中，从被测器件接收数据并测量其输出的模拟电压电平；驱动器芯片的每个引脚上都设置了含静电放电保护装置的驱动器/接收器芯片，以及能够将多个不同电压中的一个电压载入被测器件或者能够接收电平并将该电平载入至被测器件的第一晶体管开关矩阵；测量装置通过第二晶体管开关矩阵连接对应的驱...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。