技术编号:6052930
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型公开了一种芯片测试座,包括基座,所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚,所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配;所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具,所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接,所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接,所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接,所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。本实用新型的芯片测试座使得芯片测试操作简单,测试效率高。专利说明一种芯片...
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