技术编号：6063565
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及集成电路测试领域，特别涉及一种浮地测试系统。背景技术地是电子技术中一个很重要的概念，其经典定义是作为电路或系统基准的等电位或平面。接地的方法有很多种，常用的有单点接地，多点接地，浮地等。单点接地时值整个电路系统中只有一个物理点被定义为接地参考点，其他需要接地的点都直接接到这一点上。在低频电路中，布线和元件之间不会产生太大影响。通常频率小于IMHz的电路，采用一点接地。多点接地是指电子设备中各个接地点都直接接到距它最近的接地平面上(即设备的金属...
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