技术编号：6063658
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种应用X射线衍射原理为单晶材料测量和定向的自动化X射线定向仪。背景技术从单晶块切割下来的长形单晶片，其长边、短边与晶片自身的光轴、电轴均保持一定的角度关系，因而使长方形晶片能够进行定向测量。目前，圆形晶片的需求量越来越大，将长形晶片加工成圆形晶片，去掉长边、短边后，也就使其失去了与其自身的光轴、电轴的对应关系，因而给圆形晶片的定向带来难以想象的困难，所以就放弃了对圆形晶片的定向；但随着科技飞速发展，高精度圆形晶片的需求越来越迫切，那么首先面...
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