技术编号:6067038
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本新型是有关枢接、弯折结构的测试机构,尤其是有关消费性电子产品的枢接结构及电线挠性等的寿命实验机。背景技术电子产品在销售前,必须通过各种耐久性试验,才能确保产品的使用期限,确保产品品质以满足消费者对于产品品质的要求。因此有各种不同结构、功能的产品寿命测试机。例如台湾新型专利第251119号,揭示的一种按键寿命测试机,其工作平台是供设置有按键的电子仪器置放,而按键测试单元设置于工作平台,并具有可相对工作平台往复运动的按压器,以反复的按压电子仪器的按键,进行接...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。